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造成膜厚仪测量数据产生偏差困扰的原因及应对方法

发布时间:2021-04-27      点击次数:284

膜厚仪分为手持式膜厚仪和台式膜厚仪两种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。

台式的荧光X射线膜厚仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

膜厚仪

保障膜厚仪测量显示值准确性必要懂得以下小技巧

基体金属特性

对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,无损检测资源网 如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。

不应在试件的弯曲表面上测量。

膜厚仪

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