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分析为什么涂层测厚仪进行涂层厚度测量时常不准确状况

发布时间:2021-07-10      点击次数:122

随着社会经济蓬勃发展, 兰泰仪器的客户也朝着多元化、广泛化的方向发展。特别是在是刚刚接触到我们公司的涂层测厚仪的用户朋友们,在使用涂层测厚仪的过程中总会遇到这样或那样的问题。下面就由兰泰仪器以涂层测厚仪为例给大家作个简单说明。

1、为什么涂层测厚仪有时测量不准确?

     对涂层测厚仪来说,主要几方面原因引起测量不准确。

  (1)强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验,当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时,测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。

  (2)人为因素。这种情况经常会发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化,并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体,使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时,要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响,在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长,以免造成基体本身磁场的干扰。

  (3)在系统矫正时没有选择合适的基体。基体zui小平面为7mm,zui小厚度为0.2mm,低于此临界条件测量是不可靠的。

  (4)附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质,以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时,选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。

  (5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。

2、测量过程中,为什么有时候测量数据会出现明显偏差?

  测量过程当中由于探头放置方式不正确或者外界干扰因素的影响可能会造成测量数据明显偏大。这时可以按住CAL键把该数据清除以免进入数据统计中去。

3、涂层测厚仪如何进行系统校准?

 在校准铁基时是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。

4、有时开机出现干扰是什么原因?

  开机后仪器屏幕出现测量状态箭头不能再次进行测量,就说明仪器受到了干扰。主要有两个原因:

  (1)开机时探头离铁基太近,因为铁基磁场的影响而受到了干扰。

(2)没插好探头或者探头线有损伤。

 

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