兰泰测厚仪测量时注意事项

    兰泰测厚仪的涡流测量原理是高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

   

兰泰测厚仪测量时注意事项：

    兰泰测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

    ⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

    ⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。

    ⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

    ⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

    ⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

    ⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

    ⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。

    ⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。